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INTO THE SUWEI
走進蘇威
| 示例 | 概況 | 用途 | 使用裝置 | 主要對應產品 |
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光 模 塊 光 電 子 |
「業界的現狀」 大容量通訊的擴大以及光通訊的高普及率₪☁。從幹線到端子的產品開發檢查的環境評價要求在日益增加₪☁。 「蘇威方案」 提供適用於通訊行業標準的溫度溼度振動試驗的產品₪☁。 |
檢查 | 熱衝擊試驗 | 冷熱衝擊試驗箱 |
| 快速溫變試驗箱 | ||||
| 高溫放置試驗 | 恆溫恆溼試驗箱 | |||
| 硬化試驗 | 恆溫恆溼試驗箱 | |||
| 老化試驗 | 老化試驗箱 | |||
| 評價 | 熱迴圈 | 恆溫恆溼試驗箱 | ||
| 電訊標準 | 恆溫恆溼試驗箱 | |||
| 冷熱衝擊試驗箱 | ||||
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半 導 體 |
「業界的現狀」 隨著LSI系統的增產₪₪◕、多品種小數量的生產在不斷增加₪☁。快閃記憶體器的增產₪₪◕、垂直的生產體制或是耐久性評價✘☁，要在短時間內實施生產以及評估₪☁。以及與我們的生活息息相關的電腦技術以及通訊技術的茁壯成長₪☁。 「蘇威方案」 提供晶圓的檢查₪₪◕、封裝後的檢查₪₪◕、生產上的乾燥處理裝置₪☁。另外✘☁，還有能進行接合評價的冷熱衝擊裝置以及計測系統₪₪◕、密封效能檢測✘☁，加速老化箱✘☁，還提供能滿足生產線上的生產品₪₪◕、生產量的變動的小型裝置₪☁。 |
生產 | 切割洗淨後的乾燥 | 潔淨試驗箱 |
| 無塵烤箱 | ||||
| 真空高溫箱 | ||||
| 晶圓的脫溼 | 小型高溫箱 | |||
| 評價 |
晶片與引線框架 的固定 |
厭氧高溫箱 | ||
| HST高度加速老化 | ||||
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LSI系統等的 微細配線評價 |
電子導電評估系統 | |||
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裝置與基板的 接合性評價 |
冷熱衝擊試驗箱 | |||
| 密封效能檢測 | PCT高壓加速老化 | |||
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電 容 器 |
「業界的現狀」 市場不僅要求電容器小型化大容量化₪₪◕、長壽命✘☁，還要求低價格與高附加值₪☁。 「蘇威方案」 提供高附加值高度產品化的生產處理裝置（全排起高溫箱）₪☁。也提供可靠性評價用的熱處理試驗以及耐溼偏壓評價試驗箱₪☁。 |
生產 | 各種粘結塗料硬化 | 安全防爆高溫箱 |
| 全排氣高溫箱 | ||||
| 洗淨後乾燥 | 潔淨高溫箱 | |||
| 恆溫恆溼試驗箱 | ||||
| 評價 | 熱衝擊試験 | 恆溫恆溼試驗箱 | ||
| 高溫箱 | ||||
| 乾燥箱 | ||||
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手 機 |
「業界的現狀」 日新月異的新品種的手機的出品時間越來越短₪₪◕、短平快是對開發期間的要求₪☁。因此必須在短時間裡做有效的評估工作₪☁。 「蘇威方案」 材料評估₪₪◕、離子遷移評估等✘☁，可以提供短時間內有效評估的環境試驗裝置以及計測裝置₪☁。 |
檢查 | 完成品的工作檢查 | 恆溫恆溼試驗箱 |
| 恆溫恆溼室 | ||||
| 複合試驗箱 | ||||
| 寬視角恆溫恆溼箱 | ||||
| 評價 | 溫溼度試験 | 小型環境試驗箱 | ||
| 高速老化壽命試驗箱 | ||||
| 離子遷移 | 離子遷移評價系統 | |||
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「業績的現狀」 電腦已經普及到了一般的家庭₪₪◕、IT用電腦的要求越來越高₪☁。特別是移動式的增加₪₪◕、手提式的能防振動衝擊的電腦的需要也變得強烈₪☁。新款的OS的登場₪₪◕、電腦市場變得蓬勃發展₪☁。 「蘇威方案」 提供長年在電腦市場的培育的各種評估試驗₪₪◕、老化試驗₪₪◕、振動衝擊複合試驗（溫溼度＋振動）₪☁。 |
評價 |
實裝基板的 導體電阻試驗評估 |
冷熱衝擊試驗箱＋ 導體電阻評價系統 |
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| 裝置的老化評估 | 老化箱✘☁，老化燒機 | |||
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完成品或是 零部件的複合試驗 |
溫溼度振動 複合試驗箱 |
